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In-situ Rasterelektronenmikroskop zur Nanodiagnostik (EDX, WDX, GIS, el. Messtechnik)

TU-093/21-201-ZMN

Rasterelektronenmikroskope (38511100)

Lieferauftrag

Die Technische Universität Ilmenau beabsichtigt, die technologische Ausstattung im Bereich der Forschung zur Mikro- und Nanotechnologie zu erweitern. Hierzu ist vorgesehen ein flexibel einsetzbares Rasterelektronenmikroskop für in-situ Anwendungen im Bereich der Nanodiagnostik zu beschaffen. Es sollen physikalische Fragestellungen orts- und zeitaufgelöst beantwortet werden. Dabei spielen unter anderem die kombinatorische in-situ rasterelektronenmikroskopische und elektrische sowie chemische Untersuchung und Charakterisierung u.a. von Gassensoren, von memristiver Elektronik sowie von Batteriematerialien eine Rolle. Diese als Schichten bzw. Bulk-Material vorliegenden Werkstoffe bestehen überwiegend aus Metallen, Metalloxiden, -sulfiden bzw. -nitriden. Zudem sind sowohl durch eine Gasinjektion während der Untersuchung im behandelten Probenbereich elektrische und chemische Messungen zum Nachweis der Veränderung der Schicht- und Bauteileigenschaften vorgesehen. Für den Nachweis von quantitativen Änderungen chemischer Art sind ein EDX und ein WDX System notwendig.

Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften (38400000)

Chemische Analysegeräte (38434560)

Instrumente zum Messen elektrischer Größen (38341300)

Elektromagnetische Anlage (33158100)

Ilm-Kreis (DEG0F, NUTS 3)

TU Ilmenau

Die Technische Universität Ilmenau beabsichtigt, die technologische Ausstattung im Bereich der Forschung zur Mikro- und Nanotechnologie zu erweitern. Hierzu ist vorgesehen ein flexibel einsetzbares Rasterelektronenmikroskop für in-situ Anwendungen im Bereich der Nanodiagnostik zu beschaffen. Es sollen physikalische Fragestellungen orts- und zeitaufgelöst beantwortet werden. Dabei spielen unter anderem die kombinatorische in-situ rasterelektronenmikroskopische und elektrische sowie chemische Untersuchung und Charakterisierung u.a. von Gassensoren, von memristiver Elektronik sowie von Batteriematerialien eine Rolle. Diese als Schichten bzw. Bulk-Material vorliegenden Werkstoffe bestehen überwiegend aus Metallen, Metalloxiden, -sulfiden bzw. -nitriden. Zudem sind sowohl durch eine Gasinjektion während der Untersuchung im behandelten Probenbereich elektrische und chemische Messungen zum Nachweis der Veränderung der Schicht- und Bauteileigenschaften vorgesehen. Für den Nachweis von quantitativen Änderungen chemischer Art sind ein EDX und ein WDX System notwendig.

578.000,00

EUR Euro

Laufzeit in Tagen: 1

5

Geplante Mindestzahl 2 und Höchstzahl 5

Objektive Kriterien für die Auswahl der begrenzten Zahl von Bewerbern: Mindestanforderungen, Kriteriengewichtung und Ermittlung des Ergebnisses

Zur Teilnahme berechtigt sind die maximal fünf Bewerber, die alle fünf Mindestanforderungen erfüllen haben und die fünf höchsten gewichteten und summierten Wertungen erhalten haben:

(W1) wirtschaftliche Gesamtsituation des Bieters - Absteigende Bewertung der fünf umsatzstärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 10 %,

(W2) Umsatz von Systemen zur Rasterelektronenmikroskopie in Forschungseinrichtungen in den letzten 3 Jahren - Absteigende Bewertung der fünf umsatzstärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 25 %,

(W3) Mitarbeiter und deren Qualifikationsstruktur im Bereich R&D - Absteigende Bewertung der fünf R&D-stärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 15 %,

(T1) Referenzen von derzeit funktionstüchtigen und vergleichbaren Leistungen und Geräten in Europa bzw. weltweit - Absteigende Bewertung der fünf referenzstärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 25 %,

(T2) aktuelle Mitarbeiterzahl und deren Qualifikationsstruktur im Applikationslabor - Absteigende Bewertung der fünf stärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 15 %,

(T3) nächstgelegener Servicestandort - Absteigende Bewertung der Entfernung zum Erfüllungsort (5-1 Pkt.) 10 %,

Varianten/Alternativangebote sind nicht zulässig.

nein

ja

2021 FGI 0033

Angaben und Formalitäten, die erforderlich sind, um die Einhaltung der Auflagen zu überprüfen:

(M1) Erklärung, dass sich das Unternehmen weder in Liquidation befindet, noch dass über das Vermögen des Unternehmens das Insolvenz- bzw. Vergleichsverfahren eröffnet oder die Eröffnung beantragt worden ist,

(M2) Auszug aus dem Handelsregister/Gewerbezentralregister (nicht älter als 3 Monate),

(M3) Unbedenklichkeitsbescheinigung des Finanzamtes, der Krankenkassen, der Sozialversicherungsträger, der Berufsgenossenschaften und der Haftpflichtversicherung.

Die Nichterfüllung mindestens eines dieser Mindestanforderungen gilt als Ausschlusskriterium.

Unterlagen, welche

(W1) über die wirtschaftliche Gesamtsituation des Bieters,

(W2) den Umsatz von Systemen zur Rasterelektronenmikroskopie in Forschungseinrichtungen in den letzten 3 Jahren sowie

(W3) die aktuelle Mitarbeiterzahl und deren Qualifikationsstruktur im Bereich R&D für die Rasterelektronenmikroskopie

aussagekräftige Auskunft geben.

Mindestanforderung (Ausschlusskriterium):

(M4) Der Bewerber muss mindestens eine Referenzinstallation eines Systems zur Rasterelektronenmikroskopie mit einer der Beschaffung entsprechenden bzw. angelehnten Ausstattung in einer Forschungseinrichtung vorweisen können.

(M5) Vorhandensein eines eigenen Applikationslabors zur Rasterelektronenmikroskopie,

Bewertungskriterien:

(T1) Referenzen von derzeit funktionstüchtigen und vergleichbaren Leistungen und Geräten in Europa bzw. weltweit,

(T2) die aktuelle Mitarbeiterzahl und deren Qualifikationsstruktur im Applikationslabor sowie

(T3) nächstgelegener Servicestandort zum Erfüllungsort

Wettbewerblicher Dialog

ja

01.12.2021

09:30

• Deutsch (DE)

16.09.2022

entsprechend der Regelung gemäß §160 GWB